Speaker
Mr
Hasan Ghavidel
(Sharif university of Tech)
Description
In this paper a simple method for optimization of periodic nano-multilayer x-ray mirrors to obtain a high x-ray reflectivity on third lines Ti-Kα, Co-Kα, Cr –Kα based on quarter-wave (QW) thickness method, is described. in this method if layers thickness are odd multiple of QW thickness, reflected x-rays do constructive interference and we have a bragg-peak on reflectivity curve. QW thickness depend on angle and energy of incident ray. For some interesting nano-multilayers mirror in one of mentioned energies with changing the angle and between 0.5 to 8 degree determining QW thickness and reflectivity of bragg-peak for each angles is obtained by IMD software. By plotting reflectivity of Bragg- peaks curve in desired angles, the maximum reflectance is obtained.
چکیده به فارسی
در این مقاله یک روش ساده برای بهینه سازی بازتابش آینه های نانو-چندلایه متناوب پرتوی ایکس در سه انرژی Ti-Kα و Co-Kα وCr-Kα برای رسیدن به بیشترین بازتابش براساس روش ضخامت یک چهارم- موج (QW) ارائه شده است. در این روش اگر ضخامت لایه ها مضرب فردی از ضخامت QW باشند، پرتوهای ایکس خروجی تداخل سازنده انجام می دهند و در این حالت در منحنی بازتابش یک قله به نام قله براگ خواهیم داشت. ضخامت QW به زاویه و انرژی پرتوی ورودی وابسته است. برای چند آینه نانو-چندلایه ی داخواه در انرژی های مذکور و با تغییر جزئی زاویه از 0.5 تا 8 درجه ضخامت QW برای لایه ها تعیین شد و بازتابش قله براگ در تمام زوایا با استفاده از نرم افزار IMD به دست آمد. با رسم منحنی بازتابش قله های براگ بر حسب زوایای مورد نظر، بیشترین بازتابش به دست می آید.
عنوان مقاله به فارسی | Ti-Kα و Co-Kα وCr-Kα بهینه سازی بازتابش آینه های نانو-چندلایه ای متناوب پرتوی ایکس در سه انرژی |
---|
Author
Mr
Hasan Ghavidel
(Sharif university of Tech)
Co-authors
Dr
hossein khosroabadi
(sharif university)
Dr
mohammad outokesh
(sharif university)
Peer reviewing
Paper
Paper files: