Ms
Tahereh Nikbakht
(Physics & accelerator research school, NSTRI, P O Box 14395-836, Tehran, Iran)
Ion beam induced luminescence, which is a highly sensitive method of low detection limit of well below 1ppm, has been recently developed in Van de Graaff laboratory of Tehran. This method can give information about the chemical bonds and the defects of the materials, therefore, it is considered as a strong complementary for the common methods of PIXE and RBS. The low integration time of the order of a few seconds as well as the capability of being applied in external mode, present it as a suitable non-destructive method for studying the historical and precious samples. Also, the ion beam induced luminescence is sensitive to the beam-target interaction changes induced in the sample structure, therefore, it can be applied for studying them. In this research work, a “lens-based” ion beam induced luminescence setup which is designed for the micro-beam interaction chamber is introduced. A crystalline YAG sample was studied by means of both ion beam induced luminescence and microPIXE experiments. The capability of the setup is demonstrated by the high quality luminescence spectrum of the sample. Analysis of the luminescence spectrum was performed using the results of the complementary method of microPIXE. The results exhibit the efficiency of the method for analyzing the luminescent materials.
چکیده به فارسی
روش آنالیز لومینسانس یون-القایی، به عنوان روشی با حساسیت و دقت بالای آشکارسازی که قادر به شناسایی پیوندهای شیمیایی و نقایص ساختاری مواد می¬باشد، اخیراً در آزمایشگاه واندوگراف تهران به کار گرفته شده است. با توجه به سرعت بالای آنالیز از مرتبه¬ی چند ثانیه و همچنین قابلیت استفاده در هوا بدون نیاز به فرایندهای نمونه سازی، آنالیز لومینسانس یون-القایی را می¬توان به عنوان روشی غیر مخرب در زمینه¬ی مطالعه¬ی نمونه¬های ارزشمند و باستانی به کار گرفت. در این کار پژوهشی ضمن معرفی توانمندی¬های روش، چیدمان طراحی شده به منظور آزمایش در محفظه برهم کنش خلاء خط میکرو-باریکه معرفی می¬گردد. همچنین کارایی چیدمان طراحی شده با ارائه نتایج لومینسانس یون-القایی نمونه بلور YAG نشان داده شده است. طیف لومینسانس یون-القایی نمونه با استفاده از داده¬های روش مکمل میکروپیکسی آنالیز شده است. نتایج آنالیز نمونه قابلیت روش لومینسانس یون-القایی در آنالیز مواد لومینسان را نشان می¬دهد.
| عنوان مقاله به فارسی |
آنالیز به روش لومینسانس یون-القایی در آزمایشگاه واندوگراف
|
Ms
Tahereh Nikbakht
(Physics & accelerator research school, NSTRI, P O Box 14395-836, Tehran, Iran)
Prof.
Mohammad Lamehi-Rachti
(Physics & accelerator research school, NSTRI, P O Box 14395-836, Tehran, Iran)
Dr
Omidreza Kakuee
(Physics & accelerator research school, NSTRI, P O Box 14395-836, Tehran, Iran)
There are no materials yet.
